HP4155A半导体 | |
HP4155A 半导体参数分析仪 惠普4155A 采样(时域)测量,而无需变动连接。进而,对于可靠性评估还可做应力循 环测量, 例如热载流子的注入和快速EEPROM测评。 可通过前面板键,键盘,或GPIB(SCPI命令)多种途径通过设置页面和添入空格进行 设定和测量,还可通过钮扫描功能进行短暂测量和查寻设定一类似于曲线描 图仪。 显示和分析测量和分析结果显示在彩色的LCD上,可由4个图形存贮器做存贮 器做存贮,以便分析。比较。强有力的分析手段,使得很容易对诸如hFE,Vth等多种参数进行抽取。 一旦查得参数抽取条件,则可通过-自动分析功能自动地取得。输出和存贮 设定、测量,分析数据均可由GPIB,燕行或网络接口10Base-T LAN输出至彩色绘图仪和打印机, 也可通过网络或3.5寸盘存贮在MS-DOS或LIF格式文件中。Graphic(Agilent-GL,PCL功TIF) 输出文件还允许将图形转换为桌面出版软件。重复和自动测试 Agilent 4155B的 Agilent仪器BASIC控制器,可在无控制器的外部仪器构 成自动测量系统。 主要特点及优点: 在350μs之内就可以完成接触检测验证与报告,有利于保持高速生产效率 可以通过该仪器的前置面板或通过GPIB远程控制接触检测操作 内置的“源存储器”可编程序列发生器 多可存储100个不同的测试,以满足高速生产的需要 高达75000小时MTBF的可靠性设计,为不中断生产环境提供了良好的可靠性 内置的比较器简化了pass/fail测试 数字I/O支持快速键合或连接到元件机械手 0.012%的 度,5?的分辨率 备注:以上仪器我们公司大量回收,有意出售者,请联系 东莞市欧诺谊电子仪器有限公司 联系人:肖经理 13560813766 地址:东莞市塘厦镇宏业北路148号升联大厦508室 | |
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