DIC 的目标 (产品供销 - 农副产品)

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DIC 的目标
DIC 特指⼀种光学测量技术，⽤于在整个⼒学试验过程中测量试样表⾯上不断变化的全场⼆维或三维坐标。测量出的坐标场可⽤于进⼀步导出位移、应变、应变率、速度和曲率等感兴趣量（Quantities-of-Interest，QOI）的场。由于DIC 是⼀种⾮接触测量技术，它独⽴于被测材料或试样尺⼨，因此在各种领域中被⽤于研究和表征固体的变形。⼀些常见的实验材料包括⾦属、聚合物、混凝⼟、地质样品、⽣物组织、电池电极和炸药等，试样尺⼨范围从拉伸试验中使⽤的⼩试样到飞机的整个组件。　　DIC 的核⼼思想是，基于⼀系列试样表⾯的数字散斑图像，通过求解最优化问题（基于典型的传递模型，如光流），估计其全场散斑的坐标和位移。
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