带通滤波成像系统的必要性 (产品需求 - 手机通讯)
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带通滤波成像系统的必要性 | |
在利用数字图像相关法进行高温DIC图像采集时往往会遇到采集图像失真的问题。我们知道，在一般温度下物体的辐射主要在肉眼不可见的红外区。而维恩位移定律表明，受热物体表面热辐射的峰值波长，会随着物体表面温度的增加而向短波长方向移动，从而辐射出可被人眼和摄像机探测的可见光。物体热辐射中波长与温度的定量关系可用普朗克公式描述。一般情况下，当物体表面温度的高于500°C 后，位于相机感光传感器可探测接收波长范围内光波的辐射强度显著增加，因而使得普通光学成像系统所采集的物体表面图像亮度显著增强并可能出现严重的饱和，从而导致参考图像和变形后图像出现严重的退相关效应，并最终造成数字图像相关分析失效。 因此测量超过500°C高温物体的表面变形，必须要考虑并尽量减小高温辐射对图像质量亮度增强的影响。为减小高温物体表面热辐射对相机所采集图像亮度的影响，使相机能获得高温物体表面无退化的高质量数字图像，并可被数字图像相关法直接分析处理以提取全场变形信息。 | |
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